X光偵測系統中的焦點是什麼?綜合指南
焦點是工業 X 光檢測系統中決定影像品質的最關鍵組件之一。簡單來說,焦斑是指X射線管陽極上電子撞擊並導致X射線發射的區域。此焦點的大小和幾何形狀直接影響[...]
什麼是 X 射線 X 射線是一種高能量電磁輻射,其波長比紫外線短,但比伽馬射線長。當 X 射線穿過物質時,它們可以穿透物質並創建內部圖像 - 想想骨頭、器官等。這使得它們對於醫學成像非常有用。 X射線由威廉·康拉德·倫琴 (Wilhelm Conrad Roentgen) 於 1895 年發現,
平板偵測器 (FPD) 是用於捕捉 X 光影像的電子設備。近年來,它們變得越來越流行,取代了傳統的 X 光膠片和電腦放射成像 (CR) 系統。與前代產品相比,FPD 具有許多優勢,例如改進的影像品質、更快的影像擷取以及更高的劑量效率。平板的歷史
X 光技術在醫療領域已應用數十年,用於診斷和治療多種疾病。然而,X 射線技術也有多種工業應用,從檢查電子元件到分析原子層次的材料結構。在本文中,我們將更詳細地探討 X 射線管的工業應用。
隨著電子和技術的快速發展,組件及其製造流程也在快速發展。電子元件的製造需要高度的精密度和準確度,以確保最終產品的品質。其中涉及的關鍵流程之一是組件的計數和驗證。 X 射線成分計數器
X 光檢測系統是確保各行業產品安全與品質的重要工具。本文將概述 X 光檢測系統、其應用、優點及其運作原理。簡介 X 射線檢測系統越來越多地被製造商用來識別和解決產品缺陷、改進品質控制以及